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特許取得の新MWE技術で分光エリプソメトリー解析を実現
自動測定&解析で迅速な膜厚マッピングが可能
コーターやエッチング装置に搭載・In Situでリアルタイム計測
資料請求などもこちらからどうぞ。お気軽にお問い合わせください。
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