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SBT590M／
トライポッド・ポリッシャー特長

SBT590M トライポッド・ポリッシャー

SEM、TEM観察標本を精密・効率よく作製するために
設計、開発された研磨ジグ

  • 断面観察したい微小部位を正確に面出しできます

  • 光顕あるいはSEMで断面観察した試料部位そのものを1μ以下にまで
    研磨・薄片化でき、TEM観察標本を簡単に作製

  • TEM観察標本作製のイオンシニング時間を15分以下と大幅短縮

  • ウェッジ研磨法によりディンプル研磨を省略

  • 研磨、薄片化工程中に生じる片べりを修正

ウェッジ研磨

ウェッジ研磨の際には、サンプル先端全体がTEM観察部位となりますので、広範囲の観察ができます。

ウェッジ研磨
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