半導体材料の評価(破壊・非破壊試験工程)における
前処理装置のご紹介ウェビナー
この度、半導体などの不良や品質における評価工程の前処理で使用する装置をご紹介するウェビナーを開催いたします。
切断から研磨、コーティング処理や非破壊での膜厚測定など、前処理のフローに応じた装置を40分にまとめてご紹介いたします。
半導体関連の研究をされている方・半導体業界やメーカーの方 などに、是非ご参加いただきたいウェビナーです。
ウェビナーの詳細
開催日時(終了しました)
2021 年 12 月 7 日(火)
【第一回】10:00~10:40、
【第二回】13:00~13:40、
【第三回】16:00~16:40
※各回内容は同様です。ご都合の良い時間にご予約ください。
※参加費は無料です。是非この機会にご参加ください。
※ウェビナー配信サービスには【ZOOM(ウェビナー)】を利用いたします。
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